Interferensmikroskop

Frå Wikipedia – det frie oppslagsverket
Hopp til navigering Hopp til søk

Interferensmikroskop er eit optisk mikroskop som blir brukt for å undersøkja planslipte overflater. På same måte som i Michelsons interferometer blir monokromatisk ljos splitta i ei halvgjennomsiktig plate. Dei to strålane blir samla av kvart sitt objektiv. I brennpunktet til det eine objektivet står plata som skal undersøkjast, og ved det andre står på same måte ei plan samanlikningsplate. Platene reflekterer ljoset, som går tilbake gjennom den halvgjennomsiktige plata og blir fanga opp i mikroskopokularet. Her ser ein eit interferensbilete, og det som er uregelmessig i biletet kan tilbakeførast til ujamne delar i flata som blir undersøkt. På denne måten kan ein registrere høgdeskilnader i testflata på ned til 30 nanometer (30 · 10–9 m).

Kjelder[endre | endre wikiteksten]

interferensmikroskop. () I Store norske leksikon. Henta frå: http://snl.no/interferensmikroskop